Ministerio de Ciencia, Innovación y Universidades - Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) - Institut de Microelectrònica de Barcelona (IMB-CNM)
1 plaça de Nanomechanical Characterization of Sensor Devices based on Novel Materials
- Identificador
- 20240507O20
- Finalització de presentació de sol·licituds
- Sistema de selecció
- Concurs o valoració de mèrits
- Tipus de personal
- Laboral temporal
- Grup de titulació o assimilat
- A - Grau universitari
- Titulació requerida
- Estudiants de màster (curs 2023/24 o 2024/25) o estudiants de grau de darrer curs
- Matèries
- Recerca / Laboratori
- Web de l'ens convocant
- https://www.imb-cnm.csic.es/ca/recerca/carrera-investigadora/ofertes-obertes
- Accés al tràmit
- marta.fernandez@imb-cnm.csic.es
| Data de publicació | Butlletí | Núm. | Descripció | Més informació | |
|---|---|---|---|---|---|
| TA | 0 | Bases específiques. Convocatòria |
|
